Sản phẩm

Kính hiển vi phân tích tia X XGT-7200

Kính hiển vi phân tích tia X có khả năng phân tích đơn điểm và chụp ảnh siêu phổ tự động. Chế độ chân không kép. Kích thước điểm từ 1,2 mm đến 10 µm.

Chi tiết sản phẩm
Các sản phẩm cùng danh mục

Độ phân giải không gian cao nhất
Chụp ảnh lập bản đồ truyền tia X
Chế độ chân không kép
Toàn bộ dải kích thước mẫu
Phần mềm tích hợp thu thập và phân tích dữ liệu

Thông số kỹ thuật

Nguyên tố: Từ Na đến U

Ống phóng tia X: bia Rh / Điện thế 50kV / Dòng điện 1mA

Đầu dò huỳnh quang tia X: Đầu Silic Drift Detector (SDD) được làm lạnh bằng điện - hiệu ứng Peltier

Đầu dò tia X truyền qua: Lớp chất nhấp nháy Nai(Tl)

Ống dẫn tia X: Ống mao dẫn đơn sắc 10μm / 100μm không có bộ lọc

Hình ảnh quang học: Toàn bộ hình ảnh quang học của mẫu và hình ảnh phóng đại đồng trục

Kích thước bệ mẫu: XY : 100mm×100mm

Buồng mẫu: Buồng chân không/ chân không tối đa 300mm×300mm×80mm

Xử lý tín hiệu: Bộ xử lý kỹ thuật số (bộ INCA)

Phân tích định tính: Tự động nhận dạng/ Đánh dấu KLM/ Tìm đỉnh/ So sánh các phổ

Phân tích định lượng: FPM không theo chuẩn / Chuẩn FPM / FPM phù hợp file chuẩn/ Đường cong hiệu chuẩn / FPM đa lớp (đo độ dày) /Phân tích đa điểm(Max5000) / Kết quả đa điểm kết xuất ra file Excel / Quan sát phổ XGT-5000

Chức năng vẽ bản đồ: Hình ảnh tia X truyền qua / Hình ảnh nguyên tố/ Lập bản đồ phổ/ Lập bản đồ hình chữ nhật/ Tạo phổ / Thành phần RGB/ Đánh dấu tỉ lệ / Phân tích theo đường thẳng
Chức năng khác: Có thể khởi động đồng thời phần mềm XGT-5200.