Sản phẩm
XGT 5200WR
Thiết bị kính hiển vi hình ảnh tia X: phân tích định tính và định lượng bằng phương pháp huỳnh quang tia X (XRF) độ nhạy cao. XGT 5200WR được thiết kế đặc biệt cho WEEE/RoHS, ELV và Chinese RoHS để thực hiện phép đo độ nhạy cao cho các nguyên tố độc hại (Pb/Cd/Cr/Hg/Br/As/Sb...) và được trang bị các chức năng của kính hiển vi tia X.
Các Tính Năng:
Là thiết bị có đa chức năng, có khả năng thực hiện rất nhiều loại phân tích khác nhau
Phân tích nhanh các nguyên tố độc hại
Vận hành đơn giản, dễ dàng định vị chính xác vị trí cần phân tích
Có khả năng tương thích với một loạt các loại mẫu từ micro đến macro
Thiết bị XGT giải quyết được các vấn đề và khó khăn trong phân tích
Hỗ trợ trực tuyến
Hãy liên hệ với chúng tôi để nhận được tư vấn - hỗ trợ tốt nhất về các sản phẩm và dịch vụ của TLT.
Hot line: 0904147995